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ML-820涂层测厚仪

概述:本仪器采用磁性测厚方法,可无损伤的检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。技术参数:测量范围:(0~1250) μm分 辨 率:0.1μm示值精度:±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度显示方法:128*64点阵液晶LCD存储容量

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产品详情

概述:
本仪器采用磁性测厚方法,可无损伤的检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

技术参数:

测量范围:(0~1250) μm

分 辨 率:0.1μm 

示值精度:±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度

显示方法:128*64点阵液晶LCD

存储容量:可存储5组(每组Z多100个测量值)测量数据

单 位 制:公制(μm)、英制(mil),可自由转换

工作电压:3V(2节5号碱性电池)

持续工作时间:大于200小时(不开背光时)

通讯接口:USB通讯接口,可与PC机连接、通讯

外形尺寸:115mm×67mm×31 mm

整机重量:340g

标准配置:

主机            1个

测头            1个

校准片          5片

校零基体        1个

电池            2节

说明书          1本

保修卡          1个

仪器箱          1个


 ZXL-820 1_副本.jpg


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